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隨機誤差的三個主要來源：

<1>儀器噪聲誤差：是分析儀元件中產生的不希望的電擾動。這些擾動包括由于接收機的寬帶本底噪聲引起的低電平噪聲；由于測試裝置內部本振源的本底噪聲和相位噪聲引起的高電平噪聲或跡線數據抖動。

<2>開關重復性誤差：分析儀中使用了用來轉換源衰減器設置的機械射頻開關，有時機械射頻開關動作時，觸點的閉合不同于其上次動作的閉合。在分析儀你內部出現這種情況時，便會嚴重影響測量的精度。

<3>連接器重復性誤差：是由于連接器的磨損會改變電性能。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

如果是信號小的器件，那就需要激勵信號比器件小的1dB壓縮點，需要對應進行調整。當然如果是大功率的器件，則要將VNP輸入信號功率減小一些，并且在PA和VNA的輸出輸入間加上對應的衰減器，緩慢進行調試即可。對于其它還有特殊點的儀器，還需要進行對應的調整。

網絡分析儀的標準各不相同，其校準件的規格每個公司也是有一定的區別，例如N和SMA類型，其開路短路負載為1，-1和0，而進行校準時，需要預先將公司選擇的校準件存入VNA，在校準時再對比參考得到誤差方程，因此校準件的選擇就比較重要，如果選擇不對的校準件，則整個過程都會有問題，因此校準方法、校準件的選擇都要適應性的調整。

無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。